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Matériel pour analyses rayons X :

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ANALYSES AUX RAYONS X : DIFFRACTION X (SAXS)

ANALYSES AUX RAYONS X : DIFFRACTION X (SAXS)

Grâce aux bénéfices du focus optique à multicouche (Max-Flux Optics de Osmic Inc.), le SAXSess atteint un gain en intensité 20 fois plus rapidement que les systèmes Kratky traditionnels. Cela permets des mesures extrèmement rapide. Mesures simultanées aux petits et aux angles moyens. Le SAXSess possède l'option pinhole compélétée d'accessoires permettant la mesure jusqu'à 41° d'angle. >>>
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ANALYSE DE STRUCTURE AUX RAYONS : X-RAY

ANALYSE DE STRUCTURE AUX RAYONS : X-RAY

Vous permet d’identifier rapidement vos substances cristallines par diffraction de rayons X de produits sous forme de poudre. Les angles de diffraction peuvent être enregistrés autorisant l’identification des substances. De plus, les modifications cristallines des substances, leur composition, la symétrie et les constantes du réseau deviennent accessibles. Anton Paar fourni des accessoires pour ces investigations à des températures différentes de l’ambiante (-190°C à 2300°C) et sous différentes atmosphères. X-ray est la méthode de choix quand les structures des systèmes bi composant (colloïdes) doivent être étudiées. Des rayons X sont diffusés dans toutes les directions quand ils pénètrent la matière avec des inhomogénéités (nano particules) et particulièrement vers de petits angles quand les particules sont grandes comparées à la longueur d'onde des rayons X. Le résultat du modèle de diffusion est indicatif de la forme et de la taille de ces inhomogénéités. Le rapport surface sur volume des structures internes du matériau peut être aussi déterminé avec ces résultats. Avec le système SAXSess, Anton Paar fourni un instrument complet pour l’étude des nano structure solides (films) et liquide entre -30°C et 300°C. >>>
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ANALYSES AU RAYON X - DéTECTEURS SIRIUS DE GRESHAM

ANALYSES AU RAYON X - DéTECTEURS SIRIUS DE GRESHAM

Réponse aux basses énergies : Les détecteurs Sirius de GRESHAM offrent une excellente réponse aux rayons X des éléments légers. C’est une caractéristique importante dans beaucoup d’applications d’analyse. Les rayons X de très basse énergie ne pénètrent pas profondément dans le silicone. La plupart des événements se produisent à proximité de la surface de contact du cristal où des fractions de la charge sont facilement perdues. - Gresham a développé une technologie spéciale quant aux surfaces de contact qui est cruciale pour minimiser ces effets. - La technologie spéciale des surfaces de contact de Gresham est cruciale pour minimiser ces effets. Il en résulte une performance excellente vers la droite pour les rayons X K du béryllium. L’efficacité d’un détecteur en bout de spectre de basse énergie dépend du choix de la fenêtre d’entrée, disponibles en standard : - SUTW (Super Ultra Thin Window), - UTW (Ultra Thin Window), - DuraBeryllium, >>>
Seph
ANALYSES AU RAYONS X : LAXAS

ANALYSES AU RAYONS X : LAXAS

L’AXAS de KETEK est un détecteur incluant toute l’électronique et l’alimentation en tension nécessaire. Il est prêt à l’utilisation dans les minutes qui suivent sa réception. Il bénéficie des excellentes propriétés des modules SDD de KETEK. Il est parfaitement adapté aux mesures de rayons X d’énergies situées entre 150eV et 30keV (20keV en standard) pour des applications : - XRF : X-ray Fluorescence, - XRD: X-ray Dispersion, - Scientifiques. >>>
Seph
MICROANALYSES EBSD HKL CHANNEL 5.0

MICROANALYSES EBSD HKL CHANNEL 5.0

Acquisition et indexation automatique de clichés de diffraction Pilotage du faisceau du microscope Pilotage de la platine motorisée du microscope Flamenco · Affichage interactif de la transformée de Hough : possibilité d'affichage sur le cliché de diffraction de la droite correspondant au point sélectionné dans l'espace de Hough · Contrôle de la détection des bandes par l'utilisateur · Compression des clichés et utilitaires de sauvegarde pour analyse ou vérification ultérieure · Possibilité de combiner pilotage faisceau et pilotage platine · Utilitaire DAPP ("Dynamic Adjustment of Pattern Parameters") pour compenser les changements de géométrie de l'ensemble faisceau / échantillon / détecteur pendant le balayage du faisceau >>>
Synergie 4 Pgt France
TUBES à RAYONS X

TUBES à RAYONS X

Compacte, légère et de faible puissance - idéale pour les applications portables. - Design amélioré pour la meilleure stabilité et fiabilité. - 4,0 watt (40kV et 100µA) en puissance de sortie maximale. - Couplage très proche de l’échantillon - procure des résultats d’analyse comparables aux tubes à rayons X haute puissance -traditionnels. - Alimentation de puissance haute tension intégrée. - Configurations par transmission " end-window " et par réflexion sur une cible " side-window " disponibles avec divers matériaux pour l’anode cible. Applications : - XRF portable, - Imagerie portable, - Calibration d’instruments, - EDXRF de paillasse, - Microfluorescence, - Microdiffraction. >>>
Seph


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